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第三代高精度鍍鋁膜測厚儀獲得多項技術(shù)突破
添加時間:2017年 04月 09日 閱讀次數(shù):3640次
         

鍍鋁膜測厚儀由于其測試原理、技術(shù)難度、精度量程范圍、使用場合等特殊原因,國內(nèi)實驗儀器廠家開發(fā)此產(chǎn)品的并不多,傳統(tǒng)的機械測試法精度最高端的也只能到微米級。煙包、食品、醫(yī)藥、車燈等行業(yè)涉及的鍍鋁膜很薄,以埃為單位。精確控制鍍鋁膜的厚度就需要高精度的鍍鋁膜測厚儀,1 微米(μm) = 1 000 納米(nm) = 10000埃,也就是說1納米等于10埃,可見鍍鋁膜測厚儀的精度(食品行業(yè)鍍鋁層一般為200-500埃之間)。

鍍鋁膜測厚儀第一代為數(shù)碼管顯示,第二代為液晶顯示,此次推出的HP-CHY-L鍍鋁膜測厚儀是最新技術(shù)的觸摸屏顯示,為第三代產(chǎn)品,屏幕觸控操作,菜單顯示。除此之外,與之前的相比有以下六點技術(shù)升級。

一、HP-CHY-L鍍鋁膜測厚儀采用一種新材料探頭,該探頭對金屬材料尤其是鋁膜層非常敏感,測試精度由原來的10埃提高到1埃。

二、測試區(qū)域內(nèi)除探頭外全部更換為非金屬材料,渦流磁場區(qū)域沒有其他金屬,防止干擾。

三、測試墊板選用特殊防靜電材料,避免放置鋁膜或移動鋁膜產(chǎn)生的微小靜電。

四、機殼摒棄原來的45鋼外加烤漆工藝,使用一次成型的型材,美觀高檔耐磨,輕便。

五、校準(zhǔn)儀器的標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)原來使用光盤亮面,現(xiàn)在采用穩(wěn)定性更高的標(biāo)準(zhǔn)鋁箔作為標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)。

六、增加方塊電阻顯示,埃和方塊電阻可自由切換顯示,方便不同的標(biāo)準(zhǔn)計量。

以上技術(shù)升級均是經(jīng)過數(shù)次的篩選材料,軟件測試,試驗最終確定的技術(shù)方案,保證了鍍鋁膜測厚儀的超高精度以及穩(wěn)定性、重復(fù)性。

 

                                        HP-CHY-L鍍鋁膜測厚儀

HP-CHY-L鍍鋁膜測厚儀適用于各種鍍鋁膜鋁層厚度的檢測,包括食品煙草軟包裝鋁膜、渦流鍍層、蒸發(fā)鋁膜、微薄金屬膜、硅片蒸鋁層、 聲表面波鋁膜、 半導(dǎo)體鋁膜、 車燈鋁膜、塑料薄膜鋁膜等,符合國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T4957。鋁膜測利用渦流原理制造,即被測蒸鋁層靠近高頻激磁磁場時,感應(yīng)產(chǎn)生渦電流,因而產(chǎn)生渦流磁場,此渦流磁場反作用于原來激磁磁場,阻抗發(fā)生變化,然后通過檢測電路并進行放大,輸出與厚度相對應(yīng)模擬電壓。最終顯示厚度。

  該最新升級的HP-CHY-L鍍鋁膜測厚儀將會憑借其領(lǐng)先的技術(shù)廣泛應(yīng)用到超薄鋁層的測試領(lǐng)域。